涂層測厚儀的測量方法簡介

 對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等，在

有關國家和標準中稱為覆層（coating）。
      覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準

的*手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。
      涂層厚度儀的測量方法主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射

線熒光法、β射線反向散射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有

損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
     X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使

用者必須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層

和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
     隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微

型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達

到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用zui廣

泛的測厚儀器。